Програма

II-ра Школа по увод в праховата рентгенова дифракция

Предварителна програма:

Untitled Document

 

19.06.2018

20.06.2018

21.06.2018

 

08:30 – 09:00
Регистрация

 

 

 

09:00 – 09:10
Откриване

 

 

 

09:10 – 10:30
Кристално и аморфно състояние на веществата, кристална решетка, елементи на симетрия, точкови и пространствени групи. Равнини в кристалната решетка, Милерови индекси.
доц. Ц. Станимирова, СУ – ГГФ

09:00 – 10:30
Въвеждане на структурни данни и генериране на теоретична прахова дифрактограма в програма PowderCell. Фазов анализ с програма PowderCell.
ас. П. Цветков, ИОНХ

09:00 – 10:30
Количествен и полуколичествен анализ по данни от прахова рентгенова дифракция. Метод на стандартната добавка, корундови числа, Rietveld метод. Лекция и упражнения.
доц. Л. Димова, ИМК – БАН

 

10:30 – 10:45
Кафе пауза

10:30 – 10:45
Кафе пауза

10:30 – 10:45
Кафе пауза

 

10:45 – 12:15
Природа и взаимодействие с веществото на рентгеновите лъчи. Прахова дифрактограма, интензитет и позиция на линиите.
проф. Д. Ковачева, ИОНХ – БАН

10:45 – 12:15
Практика в XRD лабораториите на ИОНХ, ИМК и ИФХ. Пробоподготовка на различни видове материали за прахова рентгенова дихракция.

10:45 – 11:00
Количествен анализ – упражнения (продължение).

 

12:15 – 13:15
Обяд

12:15 – 13:15
Обяд

11:00 – 11:40
Рентгенова дифракция от тънки филми, определяне на дебелина, полюсни фигури, високотемпературна дифракция.
доц. Г. Авдеев, ИФХ – БАН

 

13:15 – 15:30
Идентификация на кристални фази с програма MATCH. Видове бази данни за фазов анализ.
проф. Т. Керестеджиан, ГИ – БАН
доц. Ц. Станимирова, СУ – ГГФ

13:15 – 15:30
Профил на дифракционната линия. Микроструктурни параметри – размер на кристалити и напрежения. Лекция и упражнения.
доц. В. Костов, ИМК – БАН

11:40 – 12:20
Изследване на полимерни материали с помощта на рентгенова дифракция.
гл. ас. Ф. Ублеков, ИП – БАН

 

15:30 – 16:00
Кафе пауза

15:30 – 16:00
Кафе пауза

12:20 – 13:30
Обяд

 

16:00 – 17:00
Запис на структурните параметри във формат на .CIF файлове. Програми за конвертиране между различни файлови формати за обмен на структурна информация.
проф. Б. Шивачев, ИМК – БАН

16:00 – 17:00
Определяне параметрите на елементарна клетка. Програми за автоматично определяне на позицията на дифракционната линия. Профилен фит с програма PowderCell. Метод на най-малките квадрати с програма UnitCell.
ас. П. Цветков, ИОНХ

13:30 – 14:15
Малкоъглово разсейване и аномално малкоъглово рентгеново разсейване в материалознанието.
доц. Д. Тачев, ИФХ-БАН

14:15 – 17:00
Упражнения и въпроси от участниците в школата.