Програма

Школа „Електронна микроскопия и нейните приложения в материалознанието”

Предварителна програма:

Untitled Document

 

24.06.2018

25.06.2018

26.06.2018

09:00 – 09:45

регистрация

Посещение на ТЕМ лабораторията в ИОМТ–I част
Принцип и устройство на ТЕМ,
доц. Д.Карашанова

Изследване на повърхности -отражателна електронна микроскопия,
доц. Богдан Рангелов, ИФХ

09:45 – 10:15

Кафе пауза

Кафе пауза

10:00 – 10:15

Откриване

Посещение на ТЕМ лабораторията в ИОМТ – II част
Препаративна техника,
гл. ас. Б.Георгиева

Изследване на повърхности – LEEM/PEEM,
доц. Богдан Рангелов, ИФХ

10:15 – 11:00

Увод в електронната микроскопия I част
СЕМ,ТЕМ – принцип на действие,
доц. Д.Карашанова, ИОМТ

11:00 – 11:15

пауза

пауза

пауза

11:15 – 12:00

Увод в електронната микроскопия II част
СЕМ,ТЕМ – устройство на електронните микроскопи,
доц. Д.Карашанова, ИОМТ

Посещение на СЕМ лабораторията в ИОМТ–Принцип и устройство на СЕМ

Елементен анализ в СЕМ,
доц. Богдан Рангелов, ИФХ

12:00 – 13:30

обяд

обяд

обяд

13:30 – 15:30

Препаративна техника за наблюдение в ТЕМ на твърди, крехки и чупливи обемни материали,
гл. ас. Б.Георгиева, ИОМТ

Препаративна техника – FIB в СЕМ, проф. Стоян Русев, доц. Г. Цуцуманова, ФзФ, СУ „Св. Кл. Охридски”

ЕМ и пробоподготовка на биологични обекти, I част
доц. Ст. Стоицова, гл.ас Цв. Паунова, ИМикробиология

15:30 – 16:00

Кафе пауза

Кафе пауза

Кафе пауза

16:00 – 17:00

Елементен анализ в TЕМ – особености,
ас. Любен Михайлов, ФХФ, СУ „Св. Климент Охридски”

Посещение в лабораторията по електронна микроскопия на ИМК – Дифракция с обратно отразени електрони, проф. М. Тарасов, ИМК

ЕМ и пробоподготовка на биологични обекти, II част
доц. Ст. Стоицова, гл.ас. Цв. Паунова, ИМикробиология